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XRD平板探測器在使用時(shí)會(huì )遇到哪些問(wèn)題

更新時(shí)間:2023-12-12點(diǎn)擊次數:1231
  XRD(X射線(xiàn)衍射)是一種常用的材料表征技術(shù),用于分析材料的晶體結構和晶體質(zhì)量。然而在使用過(guò)程中,可能會(huì )出現一些故障。樣品制備就是其中一個(gè)關(guān)鍵的步驟,對此有以下一些要求:
  1. 對于金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀,需要磨成一個(gè)平面,面積不小于10X10毫米。如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。此外,制樣時(shí)需要注意樣品的面積、表面潔凈度與表面平整程度。
  2. 在研磨過(guò)程中,需要不斷過(guò)篩,分出已經(jīng)細化的顆粒。對于軟而不便于研磨的物質(zhì),可以采用液氮或干冰使其變脆,以便于研磨。
  3. 有些樣品需要用整形銼刀制得金屬細屑,此時(shí)需要對制得的挫屑進(jìn)行退火處理消除銼刀帶來(lái)的點(diǎn)陣應力。
  在XRD實(shí)驗中,使用Jade軟件進(jìn)行數據分析是一種常見(jiàn)的做法。然而,XRD主要適用于無(wú)機物,對于有機物的應用較少。此外,XRD研究的應該是晶粒、晶體的問(wèn)題,與晶體結構關(guān)聯(lián)的問(wèn)題,而不是樣品顆粒的大小問(wèn)題。樣品顆粒的大小要用別的方法測定,例如光散射、X射線(xiàn)散射、電鏡等。
  在日常維護保養中,除了對故障進(jìn)行處理外,還需要定期進(jìn)行設備的檢查和維護,以確保設備的正常運行。同時(shí),也需要注意設備的使用環(huán)境,避免在過(guò)于潮濕或者溫度過(guò)高的環(huán)境中使用設備,以防設備受損。最后,當設備出現故障時(shí),應立即停止使用,并聯(lián)系專(zhuān)業(yè)的維修人員進(jìn)行檢查和維修,以免對設備造成進(jìn)一步的損害。
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